4.有鑒于此，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種agm電池隔板損壞檢測(cè)方法及檢測(cè)終端，以解決現(xiàn)有技術(shù)中大電流放電或長(zhǎng)時(shí)間靜置檢測(cè)agm電池隔板損壞效果不理想的問(wèn)題。
5.本發(fā)明實(shí)施例的方面提供了一種agm電池隔板損壞檢測(cè)方法，包括：
6.獲取目標(biāo)電池的目標(biāo)飽和度；
7.分別獲取目標(biāo)電池在各次恒流充電結(jié)束時(shí)的實(shí)測(cè)電池參數(shù)；其中，恒流充電的次數(shù)為至少三次；實(shí)測(cè)電池參數(shù)包括：實(shí)測(cè)電壓及實(shí)測(cè)內(nèi)阻；目標(biāo)電池的初始狀態(tài)為已充滿；
8.根據(jù)目標(biāo)飽和度及目標(biāo)電池在各次恒流充電結(jié)束時(shí)的實(shí)測(cè)電池參數(shù)，確定目標(biāo)電池的agm隔板是否損害。
9.本發(fā)明實(shí)施例的第二方面提供了一種檢測(cè)終端，包括存儲(chǔ)器、處理器以及存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中并可在處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，處理器執(zhí)行計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)如本發(fā)明實(shí)施例方面提供的agm電池隔板損壞檢測(cè)方法的步驟。
10.本發(fā)明實(shí)施例的第三方面提供了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如本發(fā)明實(shí)施例方面提供的agm電池隔板損壞檢測(cè)方法的步驟。
11.本發(fā)明實(shí)施例提供了一種agm電池隔板損壞檢測(cè)方法及檢測(cè)終端，上述方法包括：獲取目標(biāo)電池的目標(biāo)飽和度；分別獲取目標(biāo)電池在各次恒流充電結(jié)束時(shí)的實(shí)測(cè)電池參數(shù)；其中，恒流充電的次數(shù)為至少三次；實(shí)測(cè)電池參數(shù)包括：實(shí)測(cè)電壓及實(shí)測(cè)內(nèi)阻；目標(biāo)電池的初始狀態(tài)為已充滿；根據(jù)目標(biāo)飽和度及目標(biāo)電池在各次恒流充電結(jié)束時(shí)的實(shí)測(cè)電池參數(shù)，確定目標(biāo)電池的agm隔板是否損害。agm隔板損壞后，電池參數(shù)會(huì)發(fā)生變化，由此本發(fā)明實(shí)施例對(duì)已充滿的目標(biāo)電池進(jìn)行多次恒流充電，根據(jù)多次恒流充電后的電池參數(shù)的變化，可有效檢測(cè)出agm隔板是否損害。
附圖說(shuō)明
12.為了更清楚地說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見(jiàn)地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
13.圖1是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種agm電池隔板損壞檢測(cè)方法的實(shí)現(xiàn)流程示意圖；
14.圖2是本發(fā)明實(shí)施例提供的agm電池隔板損壞檢測(cè)裝置的示意圖；
15.圖3是本發(fā)明實(shí)施例提供的檢測(cè)終端的示意圖。
具體實(shí)施方式
16.以下描述中，為了說(shuō)明而不是為了限定，提出了諸如特定系統(tǒng)結(jié)構(gòu)、技術(shù)之類(lèi)的具體細(xì)節(jié)，以便透徹理解本發(fā)明實(shí)施例。然而，本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)清楚，在沒(méi)有這些具體細(xì)節(jié)的其它實(shí)施例中也可以實(shí)現(xiàn)本發(fā)明。在其它情況中，省略對(duì)眾所周知的系統(tǒng)、裝置、電路以及方法的詳細(xì)說(shuō)明，以免不必要的細(xì)節(jié)妨礙本發(fā)明的描述。
17.為了說(shuō)明本發(fā)明的技術(shù)方案，下面通過(guò)具體實(shí)施例來(lái)進(jìn)行說(shuō)明。
18.參考圖1，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種agm電池隔板損壞檢測(cè)方法，包括：
19.s101：獲取目標(biāo)電池的目標(biāo)飽和度；
20.s102：分別獲取目標(biāo)電池在各次恒流充電結(jié)束時(shí)的實(shí)測(cè)電池參數(shù)；其中，恒流充電的次數(shù)為至少三次；實(shí)測(cè)電池參數(shù)包括：實(shí)測(cè)電壓及實(shí)測(cè)內(nèi)阻；目標(biāo)電池的初始狀態(tài)為已充滿；
21.s103：根據(jù)目標(biāo)飽和度及目標(biāo)電池在各次恒流充電結(jié)束時(shí)的實(shí)測(cè)電池參數(shù)，確定目標(biāo)電池的agm隔板是否損害。
22.當(dāng)agm電池的隔板損壞時(shí)，電池參數(shù)(電壓及內(nèi)阻)會(huì)發(fā)生不同程度的變化?；谝陨?，本發(fā)明實(shí)施例中對(duì)目標(biāo)電池進(jìn)行多次恒流充電，根據(jù)各次恒流充電電池參數(shù)的變化確定電池agm隔板是否損壞，可有效檢測(cè)出電池的agm隔板的狀態(tài)。由于不同飽和度電池的電池參數(shù)變化不同，因此在確定agm隔板狀態(tài)時(shí)還應(yīng)當(dāng)結(jié)合電池的飽和度進(jìn)行判斷。進(jìn)一步的，為保證檢測(cè)的一致性，設(shè)置一個(gè)統(tǒng)一的基準(zhǔn)，在目標(biāo)電池滿電時(shí)進(jìn)行測(cè)試，統(tǒng)一基準(zhǔn)，提高了檢測(cè)的準(zhǔn)確度。
23.例如，(1)獲取目標(biāo)飽和度為91％；
24.(2)對(duì)目標(biāo)電池以電流i1恒流充電1h，記錄此時(shí)的電壓為v1，內(nèi)阻為ir1；
25.(3)對(duì)目標(biāo)電池以電流i2恒流充電1h，記錄此時(shí)的電壓為v2，內(nèi)阻為ir2；
26.(4)對(duì)目標(biāo)電池以電流i3恒流充電1h，記錄此時(shí)的電壓為v3，內(nèi)阻為ir3；
27.根據(jù)目標(biāo)飽和度及三次測(cè)試得到電壓及內(nèi)阻，挖掘目標(biāo)電池的電池參數(shù)的變化，確定目標(biāo)電池的agm隔板是否損壞。
28.一些實(shí)施例中，s103可以包括：
29.s1031：根據(jù)目標(biāo)飽和度及標(biāo)準(zhǔn)電池參數(shù)表，得到各組實(shí)測(cè)電池參數(shù)分別對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)電池參數(shù)；標(biāo)準(zhǔn)電池參數(shù)包括：標(biāo)準(zhǔn)電壓及標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)阻；
30.s1032：根據(jù)各組實(shí)測(cè)電池參數(shù)及各組實(shí)測(cè)電池參數(shù)分別對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)電池參數(shù)，確定目標(biāo)電池的agm隔板是否損害。
31.本發(fā)明實(shí)施例中，不同的飽和度電池的電池參數(shù)變化不同，因此，本發(fā)明實(shí)施例可通過(guò)查表得到目標(biāo)飽和度對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)電池參數(shù)，比較目標(biāo)電池的實(shí)測(cè)電池參數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)電池參數(shù)的差別，確定目標(biāo)電池的agm隔板是否損壞。
32.其中，飽和度為電池的常規(guī)參數(shù)，一般可直接獲取。本發(fā)明實(shí)施例中，可掃描目標(biāo)電池的二維碼獲取目標(biāo)電池的目標(biāo)飽和度。
33.一些實(shí)施例中，s1032可以包括：
34.1、針對(duì)各組實(shí)測(cè)電池參數(shù)，確定該組實(shí)測(cè)電池參數(shù)中的實(shí)測(cè)電壓與該組實(shí)測(cè)電池參數(shù)對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)電池參數(shù)中的標(biāo)準(zhǔn)電壓之間的電壓差值，并確定電壓差值是否大于預(yù)設(shè)電壓差值；若電壓差值大于預(yù)設(shè)電壓差值，則確定目標(biāo)電池的agm隔板損壞；
35.2、針對(duì)各組實(shí)測(cè)電池參數(shù)，確定該組實(shí)測(cè)電池參數(shù)中的實(shí)測(cè)內(nèi)阻與該組實(shí)測(cè)電池參數(shù)對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)電池參數(shù)中的標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)阻之間的內(nèi)阻差值，并確定內(nèi)阻差值是否大于預(yù)設(shè)內(nèi)阻差值；若內(nèi)阻差值大于預(yù)設(shè)內(nèi)阻差值，則確定目標(biāo)電池的agm隔板損壞。
36.本發(fā)明實(shí)施例中，若電池的agm隔板沒(méi)有損壞，則每組實(shí)測(cè)電池參數(shù)與正常電池的標(biāo)準(zhǔn)電池參數(shù)相比，應(yīng)當(dāng)在預(yù)設(shè)范圍內(nèi)，若超出預(yù)設(shè)范圍，說(shuō)明目標(biāo)電池的隔板可能已經(jīng)損壞。